SJ/T 11326 标准 全称为《SJ/T 11326-2006 数字电视接收设备术语》 ,该标准由中华人民共和国信息产业部发布,于 2006 年 10 月 1 日起实施。
一、SJ/T 11326 标准基本信息
标准编号SJ/T 11326-2019
SJ/T 是中国电子行业推荐性标准的代号,其中:SJ 代表 “电子”(电子工业部/电子信息行业),T 表示该标准为 推荐性标准(与强制性标准 “SJ” 相对),(SJ/T = 电子行业,T = 推荐性)SJ/T标准属于 电子工业推荐性标准。
二、涵盖领域
1.电子元器件技术要求或测试方法
2.电子产品可靠性、环境适应性试验
3.电子材料、印制电路板(PCB)、焊料等相关规范
4.电子设备或组件的性能指标、安全要求
5.与电子制造工艺、检测相关的标准化文件
例如:数字电视接收及显示设备
电子产品环境适应性或可靠性试验项目:如温湿度循环、振动、冲击、老化等试验条件与评价方法。
环境试验项目
环境试验项目包括气候环境试验(以下简称气候试验)和机械环境试验(以下简称机械试验),先进行气候试验,再进行机械试验。气候试验和机械试验应在同一样品上进行。
◆气候试验项目
气候试验项目如下:
a)高温负荷试验;b)高温贮存试验;c)恒定湿热试验;d)高温高湿负荷试验;e)低温负荷试验;f)低温贮存试验;g)温度变化试验;h)低气压试验(仅适用于海拔2000m以上的高原地区使用的产品)。
◆机械试验项目
机械试验项目如下:
a)扫频振动试验;b)碰撞试验;c)自由跌落试验。
◆预处理条件
预处理条件如下:
a)温度:20℃~30℃;b)相对湿度:25%~75%;c)气压:86 kPa~106 kPa。
样品的恢复和检测条件
样品经试验之后的恢复和检测均在下列试验用标准大气条件下进行:
a)温度:15℃~35℃;b)相对湿度:25%~75%;c)气压:86 kPa~106 kPa。
三、总结:
检测对象 序号 项目/参数 检测标准(方法) 备注说明 数字电视接收 及显示设备 1 高温负荷试验 SJ/T11326-20166.1.1 GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 高温(IEC 60068-2-2:2007,IDT) 2 高温贮存试验 SJ/T11326-20166.1.2 GB/T 2424.1-2005电工电子产品基本环境试验规程高温低温试验导则(IEC60068-3-1:1974 IDT) 3 恒定湿热试验 SJ/T11326-20166.1.3 GB/T2423电工电子产品环境试验 4 高温高湿负荷试验 SJ/T11326-20166.1.4 GB/T2423电工电子产品环境试验 5 低温负荷试验 SJ/T11326-20166.1.5 GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 低温(IEC 60068-2-1:2007,IDT) 6 低温贮存试验 SJ/T11326-2016 6.1.6 GB/T 2424.1-2005电工电子产品基本环境试验规程高温低温试验导则(IEC60068-3-1:1974 IDT) 7 温度变化试验 SJ/T11326-2016 6.1.7 GB/T2423电工电子产品环境试验 8 低气压试验 SJ/T11326-2016 6.1.8 GB/T2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法振动(正弦)(IEC 60068-2-13:1983,IDT) 9 扫频振动(正 弦)试验 SJ/T11326-2016 6.2.3 GB/T2423.10-1995电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 振动(正弦)(IEC 60068-2-6:1995,IDT) 10 碰撞试验 SJ/T11326-2016 6.2.2 GB/T2423.6-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 碰撞(IEC 60068-2-29:1987,IDT) 11 自由跌落试验 SJ/T11326-2016 6.2.4
检测对象
序号
项目/参数
检测标准(方法)
备注说明
数字电视接收
及显示设备
1
高温负荷试验
SJ/T11326-20166.1.1
GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 高温(IEC 60068-2-2:2007,IDT)
2
高温贮存试验
SJ/T11326-20166.1.2
GB/T 2424.1-2005电工电子产品基本环境试验规程高温低温试验导则(IEC60068-3-1:1974 IDT)
3
恒定湿热试验
SJ/T11326-20166.1.3
GB/T2423电工电子产品环境试验
4
高温高湿负荷试验
SJ/T11326-20166.1.4
5
低温负荷试验
SJ/T11326-20166.1.5
GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 低温(IEC 60068-2-1:2007,IDT)
6
低温贮存试验
SJ/T11326-2016 6.1.6
7
温度变化试验
SJ/T11326-2016 6.1.7
8
低气压试验
SJ/T11326-2016 6.1.8
GB/T2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法振动(正弦)(IEC 60068-2-13:1983,IDT)
9
扫频振动(正 弦)试验
SJ/T11326-2016 6.2.3
GB/T2423.10-1995电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 振动(正弦)(IEC 60068-2-6:1995,IDT)
10
碰撞试验
SJ/T11326-2016 6.2.2
GB/T2423.6-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 碰撞(IEC 60068-2-29:1987,IDT)
11
自由跌落试验
SJ/T11326-2016 6.2.4
本文上部配图说明:
1、富港检测站内图片为富港包装实验室实地拍摄(本图有版权,请勿盗图)!
2、一组包装测试程序由多个试验项目组成,因空间有限,本文上部配图仅列举其中一个测试设备或一个场景图片作为代表供您了解使用,请见谅,如需更多信息,请与我司包装测试顾问联系!感谢您的来访与支持!
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